Electrical Field Analysis of Nanoscale Field Effect Transistors

Aissa Boudjella, Zhongfang Jin et Yvon Savaria

Article de revue (2004)

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Département:	Département de génie électrique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/25255/
Titre de la revue:	Japanese Journal of Applied Physics (vol. 43, no 6)
DOI:	10.1143/jjap.43.3831
URL officielle:	https://doi.org/10.1143/jjap.43.3831
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:19
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:11

Citer en APA 7:	Boudjella, A., Jin, Z., & Savaria, Y. (2004). Electrical Field Analysis of Nanoscale Field Effect Transistors. Japanese Journal of Applied Physics, 43(6), 3831-3837. https://doi.org/10.1143/jjap.43.3831
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