Aissa Boudjella, Zhongfang Jin, Yvon Savaria
Article de revue (2004)
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Département:
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Titre de la revue
:
Japanese Journal of Applied Physics
(
vol.
43
,
no
6
)
Maison d'édition:
Institute of Physics
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:25255
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:19
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:00
Citer en APA 7:
Boudjella, A., Jin, Z., & Savaria, Y. (2004). Electrical Field Analysis of Nanoscale Field Effect Transistors. Japanese Journal of Applied Physics, 43(6), 3831-3837. https://doi.org/10.1143/jjap.43.3831
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