O. Duval, L. P. Lafrance, Yvon Savaria
, Patrick Desjardins
Communication écrite (2004)
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ISBN:
0769521894
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
International Conference on Mems, Nano and Smart Systems (ICMENS 2004)
Lieu de la conférence:
Banff, Canada
Date(s) de la conférence:
2004-08-25 - 2004-08-27
Maison d'édition:
IEEE Computer Society
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:25081
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:19
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:59
Citer en APA 7:
Duval, O., Lafrance, L. P., Savaria, Y., & Desjardins, P. (août 2004). An Integrated Test Platform for Nanostructure Electrical Characterization [Communication écrite]. International Conference on Mems, Nano and Smart Systems (ICMENS 2004), Banff, Canada. https://doi.org/10.1109/icmens.2004.1508953
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