O. Duval, L. P. Lafrance, Yvon Savaria
et Patrick Desjardins
Communication écrite (2004)
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| Département: |
Département de génie physique Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/25081/ |
| Nom de la conférence: | International Conference on Mems, Nano and Smart Systems (ICMENS 2004) |
| Lieu de la conférence: | Banff, Canada |
| Date(s) de la conférence: | 2004-08-25 - 2004-08-27 |
| Maison d'édition: | IEEE Computer Society |
| DOI: | 10.1109/icmens.2004.1508953 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icmens.2004.1508953 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:19 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:11 |
| Citer en APA 7: | Duval, O., Lafrance, L. P., Savaria, Y., & Desjardins, P. (août 2004). An Integrated Test Platform for Nanostructure Electrical Characterization [Communication écrite]. International Conference on Mems, Nano and Smart Systems (ICMENS 2004), Banff, Canada. https://doi.org/10.1109/icmens.2004.1508953 |
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