P. Wei, M. Chicoine, S. Gujrathi, F. Schiettekatte, J. N. Beaudry, Rémo A. Masut et Patrick Desjardins
Article de revue (2004)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/24531/ |
Titre de la revue: | Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films (vol. 22, no 3) |
Maison d'édition: | American Vacuum Society |
DOI: | 10.1116/1.1648671 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1116/1.1648671 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:19 |
Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:10 |
Citer en APA 7: | Wei, P., Chicoine, M., Gujrathi, S., Schiettekatte, F., Beaudry, J. N., Masut, R. A., & Desjardins, P. (2004). Characterization of GaAs₁₋ₓ Nₓ epitaxial layers by ion beam analysis. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 22(3), 908-911. https://doi.org/10.1116/1.1648671 |
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