Communication écrite (2005)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/24339/ |
| Nom de la conférence: | 5th International Workshop on System on Chip for Real-Time Applications (IWSOC 2005) |
| Lieu de la conférence: | Banff, Alberta, Canada |
| Date(s) de la conférence: | 2005-07-20 - 2005-07-24 |
| Maison d'édition: | IEEE Computer Society |
| DOI: | 10.1109/iwsoc.2005.9 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iwsoc.2005.9 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:09 |
| Citer en APA 7: | Bui, H. T., & Savaria, Y. (juillet 2005). A Generic Method for Embedded Measurement and Compensation of Process and Temperature Variations in Socs [Communication écrite]. 5th International Workshop on System on Chip for Real-Time Applications (IWSOC 2005), Banff, Alberta, Canada. https://doi.org/10.1109/iwsoc.2005.9 |
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