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A Generic Method for Embedded Measurement and Compensation of Process and Temperature Variations in Socs

H. T. Bui et Yvon Savaria

Communication écrite (2005)

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Département: Département de génie électrique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/24339/
Nom de la conférence: 5th International Workshop on System on Chip for Real-Time Applications (IWSOC 2005)
Lieu de la conférence: Banff, Alberta, Canada
Date(s) de la conférence: 2005-07-20 - 2005-07-24
Maison d'édition: IEEE Computer Society
DOI: 10.1109/iwsoc.2005.9
URL officielle: https://doi.org/10.1109/iwsoc.2005.9
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:18
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:04
Citer en APA 7: Bui, H. T., & Savaria, Y. (juillet 2005). A Generic Method for Embedded Measurement and Compensation of Process and Temperature Variations in Socs [Communication écrite]. 5th International Workshop on System on Chip for Real-Time Applications (IWSOC 2005), Banff, Alberta, Canada. https://doi.org/10.1109/iwsoc.2005.9

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