Nick Virgilio
, M. F. Pépin, Patrick Desjardins, Gilles L'Espérance et Basil D. Favis
Communication écrite (2005)
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie
| Département: |
Département de génie chimique Département de génie physique Département de mathématiques et de génie industriel |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/23563/ |
| Nom de la conférence: | PPS 2005 America's Regional Meeting of the Polymer Processing Society |
| Lieu de la conférence: | Québec, QC, Canada. |
| Date(s) de la conférence: | 2005-08-14 - 2005-08-17 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:18 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:08 |
| Citer en APA 7: | Virgilio, N., Pépin, M. F., Desjardins, P., L'Espérance, G., & Favis, B. D. (août 2005). High contrast imaging of interphases in ternary polymer blends using focused ion beam preparation and atomic force microscopy [Communication écrite]. PPS 2005 America's Regional Meeting of the Polymer Processing Society, Québec, QC, Canada.. |
|---|---|
Statistiques
Aucune statistique n'est disponible.
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
