High contrast imaging of interphases in ternary polymer blends using focused ion beam preparation and atomic force microscopy

Nick Virgilio, M. F. Pépin, Patrick Desjardins, Gilles L'Espérance, Basil D. Favis

Communication écrite (2005)

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Nom de la conférence:
PPS 2005 America's Regional Meeting of the Polymer Processing Society
Lieu de la conférence:
Québec, QC, Canada.
Date(s) de la conférence:
2005-08-14 - 2005-08-17
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:23563
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:18
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:57
Citer en APA 7:
Virgilio, N., Pépin, M. F., Desjardins, P., L'Espérance, G., & Favis, B. D. (août 2005). High contrast imaging of interphases in ternary polymer blends using focused ion beam preparation and atomic force microscopy [Communication écrite]. PPS 2005 America's Regional Meeting of the Polymer Processing Society, Québec, QC, Canada..

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