Conception d'un système de test et de configuration numérique tolérant aux pannes pour la technologie WAFERIC

Yan Basile-Bellavance

Mémoire de maîtrise (2009)

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Département:	Département de génie électrique
Programme:	génie électrique
Directeurs ou directrices:	Yvon Savaria et Yves Blaquières
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/235/
Université/École:	École Polytechnique de Montréal
Date du dépôt:	26 oct. 2010 14:30
Dernière modification:	04 avr. 2026 12:26

Citer en APA 7:	Basile-Bellavance, Y. (2009). Conception d'un système de test et de configuration numérique tolérant aux pannes pour la technologie WAFERIC [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/235/
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