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Dynamics of ion bombardment-induced modifications of Si(001) at the radio-frequency-biased electrode in low-pressure oxygen plasmas: in situ spectroscopic ellipsometry and Monte Carlo study

A. Amassian, M. Svec, Patrick Desjardins et Ludvik Martinu

Article de revue (2006)

Un lien externe est disponible pour ce document
Département: Département de génie physique
Centre de recherche: RQMP - Regroupement québécois sur les matériaux de pointe
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/23451/
Titre de la revue: Journal of Applied Physics (vol. 100, no 6)
Maison d'édition: American Institute of Physics
DOI: 10.1063/1.2337260
URL officielle: https://doi.org/10.1063/1.2337260
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:17
Dernière modification: 27 sept. 2024 13:55
Citer en APA 7: Amassian, A., Svec, M., Desjardins, P., & Martinu, L. (2006). Dynamics of ion bombardment-induced modifications of Si(001) at the radio-frequency-biased electrode in low-pressure oxygen plasmas: in situ spectroscopic ellipsometry and Monte Carlo study. Journal of Applied Physics, 100(6), 063526. https://doi.org/10.1063/1.2337260

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