Afshin Nourivand, Asim J. Al-Khalili, Yvon Savaria
Communication écrite (2008)
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Département:
ISBN:
9781424421664
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
51st IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS 2008)
Lieu de la conférence:
Knoxville, TN, United states
Date(s) de la conférence:
2008-08-10 - 2008-08-13
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:20397
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:16
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:52
Citer en APA 7:
Nourivand, A., Al-Khalili, A. J., & Savaria, Y. (août 2008). Aggressive leakage reduction of SRAMs using error checking and correcting (ECC) techniques [Communication écrite]. 51st IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS 2008), Knoxville, TN, United states. https://doi.org/10.1109/mwscas.2008.4616827
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