Yan Basile-Bellavance, Yves Blaquière, Yvon Savaria
Communication écrite (2009)
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Département:
Unité de recherche:
ISBN:
9781424445745
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
Joint IEEE North-East Workshop on Circuits and Systems and TAISA Conference (NEWCAS-TAISA 2009)
Lieu de la conférence:
Toulouse, France
Date(s) de la conférence:
2009-06-28 - 2009-07-01
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:19983
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:14
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:23
Citer en APA 7:
Basile-Bellavance, Y., Blaquière, Y., & Savaria, Y. (juin 2009). Faults diagnosis methodology for the WaferNet interconnection network [Communication écrite]. Joint IEEE North-East Workshop on Circuits and Systems and TAISA Conference (NEWCAS-TAISA 2009), Toulouse, France. https://doi.org/10.1109/newcas.2009.5290412
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