Yan Basile-Bellavance, Yves Blaquière et Yvon Savaria
Communication écrite (2009)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| ISBN: | 9781424445745 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/19983/ |
| Nom de la conférence: | Joint IEEE North-East Workshop on Circuits and Systems and TAISA Conference (NEWCAS-TAISA 2009) |
| Lieu de la conférence: | Toulouse, France |
| Date(s) de la conférence: | 2009-06-28 - 2009-07-01 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/newcas.2009.5290412 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/newcas.2009.5290412 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:14 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 02:06 |
| Citer en APA 7: | Basile-Bellavance, Y., Blaquière, Y., & Savaria, Y. (juin 2009). Faults diagnosis methodology for the WaferNet interconnection network [Communication écrite]. Joint IEEE North-East Workshop on Circuits and Systems and TAISA Conference (NEWCAS-TAISA 2009), Toulouse, France. https://doi.org/10.1109/newcas.2009.5290412 |
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