R. Robache, Jean-François Boland, Claude Thibeault, Yvon Savaria
Communication écrite (2013)
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Nom de la conférence:
11th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2013)
Lieu de la conférence:
Paris, France
Date(s) de la conférence:
2013-06-16 - 2013-06-19
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:13207
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:10
Dernière modification:
08 oct. 2026 17:00
Citer en APA 7:
Robache, R., Boland, J.-F., Thibeault, C., & Savaria, Y. (juin 2013). A methodology for system-level fault injection based on gate-level faulty behavior [Communication écrite]. 11th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2013), Paris, France. https://doi.org/10.1109/newcas.2013.6573663
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