R. Robache, J.-F. Boland, C. Thibeault et Yvon Savaria
Communication écrite (2013)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/13207/ |
| Nom de la conférence: | 11th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2013) |
| Lieu de la conférence: | Paris, France |
| Date(s) de la conférence: | 2013-06-16 - 2013-06-19 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/newcas.2013.6573663 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/newcas.2013.6573663 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:10 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:50 |
| Citer en APA 7: | Robache, R., Boland, J.-F., Thibeault, C., & Savaria, Y. (juin 2013). A methodology for system-level fault injection based on gate-level faulty behavior [Communication écrite]. 11th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2013), Paris, France. https://doi.org/10.1109/newcas.2013.6573663 |
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