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A methodology for system-level fault injection based on gate-level faulty behavior

R. Robache, J.-F. Boland, C. Thibeault et Yvon Savaria

Communication écrite (2013)

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Département: Département de génie électrique
Centre de recherche: GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/13207/
Nom de la conférence: 11th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2013)
Lieu de la conférence: Paris, France
Date(s) de la conférence: 2013-06-16 - 2013-06-19
Maison d'édition: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/newcas.2013.6573663
URL officielle: https://doi.org/10.1109/newcas.2013.6573663
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:10
Dernière modification: 25 sept. 2024 15:50
Citer en APA 7: Robache, R., Boland, J.-F., Thibeault, C., & Savaria, Y. (juin 2013). A methodology for system-level fault injection based on gate-level faulty behavior [Communication écrite]. 11th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2013), Paris, France. https://doi.org/10.1109/newcas.2013.6573663

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