Christelle Hobeika, Simon Pichette, Marc-André Léonard, Claude Thibeault, Jean-François Boland, Yves Audet
Communication écrite (2014)
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Département:
Unité de recherche:
ISBN:
9781479953240
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
20th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2014)
Lieu de la conférence:
Catalunya, Spain
Date(s) de la conférence:
2014-07-07 - 2014-07-09
Maison d'édition:
IEEE Computer Society
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:12188
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:08
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:12
Citer en APA 7:
Hobeika, C., Pichette, S., Léonard, M.-A., Thibeault, C., Boland, J.-F., & Audet, Y. (juillet 2014). Multi-abstraction level signature generation and comparison based on radiation single event upset [Communication écrite]. 20th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2014), Catalunya, Spain. https://doi.org/10.1109/iolts.2014.6873700
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