Christelle Hobeika, Simon Pichette, Marc-André Léonard, Claude Thibeault, Jean-François Boland et Yves Audet
Communication écrite (2014)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| ISBN: | 9781479953240 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/12188/ |
| Nom de la conférence: | 20th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2014) |
| Lieu de la conférence: | Catalunya, Spain |
| Date(s) de la conférence: | 2014-07-07 - 2014-07-09 |
| Maison d'édition: | IEEE Computer Society |
| DOI: | 10.1109/iolts.2014.6873700 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iolts.2014.6873700 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:08 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 12:20 |
| Citer en APA 7: | Hobeika, C., Pichette, S., Léonard, M.-A., Thibeault, C., Boland, J.-F., & Audet, Y. (juillet 2014). Multi-abstraction level signature generation and comparison based on radiation single event upset [Communication écrite]. 20th IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2014), Catalunya, Spain. https://doi.org/10.1109/iolts.2014.6873700 |
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