M. 'hammed Sahnoun, Belgacem Bettayeb, Samuel Bassetto
, Michel Tollenaere
Article de revue (2014)
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Titre de la revue
:
Journal of Intelligent Manufacturing
(
vol.
27
,
no
6
)
Maison d'édition:
Springer
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:11636
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:08
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:11
Citer en APA 7:
Sahnoun, M. , Bettayeb, B., Bassetto, S., & Tollenaere, M. (2014). Simulation-based optimization of sampling plans to reduce inspections while mastering the risk exposure in semiconductor manufacturing. Journal of Intelligent Manufacturing, 27(6), 1335-1349. https://doi.org/10.1007/s10845-014-0956-x
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