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Blaquiere, Y., Basile-Bellavance, Y., Berrima, S., & Savaria, Y. (juin 2014). Design and validation of a novel reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2014), Melbourne, VIC, Australia (4 pages). Lien externe
Berrima, S. (2014). Algorithmes de diagnostic d'une chaîne JTAG reconfigurable et tolérante aux pannes au sein de la technologie WaferIC [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible