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Berrima, S. (2014). Algorithmes de diagnostic d'une chaîne JTAG reconfigurable et tolérante aux pannes au sein de la technologie WaferIC [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible
Blaquiere, Y., Basile-Bellavance, Y., Berrima, S., & Savaria, Y. (juin 2014). Design and validation of a novel reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2014), Melbourne, VIC, Australia (4 pages). Lien externe
