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Slamani, M. (1994). Test intégré, diagnostic et analyse de la testabilité dans les circuits intégrés analogiques basés sur le concept de la sensibilité [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. Non disponible
Slamani, M., & Kaminska, B. (avril 1994). Multifrequency testability analysis for analog circuits [Communication écrite]. 12th IEEE VLSI Test Symposium, Cherry Hill, NJ, USA. Lien externe
Slamani, M., Kaminska, B., & Quesnel, G. (octobre 1994). Integrated approach for analog circuit testing with a minimum number of detected parameters [Communication écrite]. 1994 IEEE International Test Conference, Washington, DC, USA. Lien externe
