Documents publiés en "1994"

Département de génie électrique

Slamani, M. (1994). Test intégré, diagnostic et analyse de la testabilité dans les circuits intégrés analogiques basés sur le concept de la sensibilité [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. Non disponible

Slamani, M., & Kaminska, B. (avril 1994). Multifrequency testability analysis for analog circuits [Communication écrite]. 12th IEEE VLSI Test Symposium, Cherry Hill, NJ, USA. Lien externe

Slamani, M., Kaminska, B., & Quesnel, G. (octobre 1994). Integrated approach for analog circuit testing with a minimum number of detected parameters [Communication écrite]. 1994 IEEE International Test Conference, Washington, DC, USA. Lien externe

Département de génie informatique et génie logiciel

Slamani, M. (1994). Test intégré, diagnostic et analyse de la testabilité dans les circuits intégrés analogiques basés sur le concept de la sensibilité [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. Non disponible

Slamani, M., & Kaminska, B. (avril 1994). Multifrequency testability analysis for analog circuits [Communication écrite]. 12th IEEE VLSI Test Symposium, Cherry Hill, NJ, USA. Lien externe

Slamani, M., Kaminska, B., & Quesnel, G. (octobre 1994). Integrated approach for analog circuit testing with a minimum number of detected parameters [Communication écrite]. 1994 IEEE International Test Conference, Washington, DC, USA. Lien externe