Documents dont le centre de recherche est "(CM)² - Centre de caractérisation microscopique des matériaux"

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Beaudoin, M., Masut, R. A., Isnard, L., Desjardins, P., Bensaada, A., L'Espérance, G., & Leonelli, R. (novembre 1994). Band offsets of InAsxP₁₋x/InP strained layer quantum wells grown by LP-MOVPE using TBAs [Communication écrite]. Microcrystalline and nanocrystalline semiconductors : Symposium F of the 1994 Fall Meeting of the Materials Research Society, Boston, USA. Lien externe