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Documents dont le centre de recherche est "(CM)² - Centre de caractérisation microscopique des matériaux"

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Article de revue

Barreto, M. P., Veillette, R., & L'Espérance, G. (1995). Development and application of a dry ultramicrotomy technique for the preparation of galvanneal sheet coatings. Microscopy Research and Technique, 31(4), 293-299. Lien externe

Communication écrite

Beaudoin, M., Masut, R. A., Isnard, L., Desjardins, P., Bensaada, A., L'Espérance, G., & Leonelli, R. (novembre 1994). Band offsets of InAsxP₁₋x/InP strained layer quantum wells grown by LP-MOVPE using TBAs [Communication écrite]. Microcrystalline and nanocrystalline semiconductors : Symposium F of the 1994 Fall Meeting of the Materials Research Society, Boston, USA. Lien externe

Liste produite: Fri Dec 20 05:44:52 2024 EST.