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Nuage de motsUn nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Balois, M. V., Hayazawa, N., Tarun, A., Kawata, S., Reiche, M., & Moutanabbir, O. (2014). Direct optical mapping of anisotropic stresses in nanowires using transverse optical phonon splitting. Nano Letters, 14(7), 3793-3798. Lien externe
Dadwal, U., Kumar, P., Moutanabbir, O., Reiche, M., & Singh, R. (2014). Effect of implantation temperature on the H-induced microstructural damage in AlN. Journal of Alloys and Compounds, 588, 300-304. Lien externe
Tarun, A., Hayazawa, N., Balois, M. V., Kawata, S., Reiche, M., & Moutanabbir, O. (2013). Stress redistribution in individual ultrathin strained silicon nanowires: a high-resolution polarized Raman study. New Journal of Physics, 15(5). Disponible
Hähnel, A., Reiche, M., Moutanabbir, O., Blumtritt, H., Geisler, H., Hontschel, J., & Engelmann, H.-J. (2012). Improving accuracy and precision of strain analysis by energy-filtered nanobeam electron diffraction. Microscopy and Microanalysis, 18(1), 229-40. Lien externe
Moutanabbir, O., Hähnel, A., Reiche, M., Erfurth, W., Tarun, A., Hayazawa, N., Kawata, S., Naumann, F., & Petzold, M. (2011). Strain Nano-Engineering: SSOI as a Playground. ECS Transactions, 35(5), 43-50. Lien externe
Hähnel, A., Reiche, M., Moutanabbir, O., Blumtritt, H., Geisler, H., Hoentschel, J., & Engelmann, H.-J. (2011). Nano‐beam electron diffraction evaluation of strain behaviour in nano‐scale patterned strained silicon‐on‐insulator. Physica status solidi. C, Conferences and critical reviews/Physica status solidi. C, Current topics in solid state physics, 8(4), 1319-1324. Lien externe
Moutanabbir, O., Reiche, M., Hähnel, A., Erfurth, W., Tarun, A., Hayazawa, N., Kawata, S., Naumann, F., & Petzold, M. (2011). Strain Nano-Engineering: SSOI as a Playground. ECS Meeting Abstracts, MA2011-01(23), 1415 (1 page). Lien externe
Tarun, A., Hayazawa, N., Ishitobi, H., Kawata, S., Reiche, M., & Moutanabbir, O. (2011). Mapping the "forbidden" transverse-optical phonon in single strained silicon (100) nanowire. Nano Letters, 11(11), 4780-4788. Lien externe
Moutanabbir, O., Reiche, M., Zakharov, N., Naumann, F., & Petzold, M. (2010). Observation of free surface-induced bending upon nanopatterning of ultrathin strained silicon layer. Nanotechnology, 22(4), 045701 (5 pages). Lien externe
Moutanabbir, O., Reiche, M., Hähnel, A., Erfurth, W., Tarun, A., Hayazawa, N., Kawata, S., Naumann, F., & Petzold, M. (2010). Strain Stability in Nanoscale Patterned Strained Silicon-On-Insulator. ECS Transactions, 33(6), 511-522. Lien externe
Moutanabbir, O., Reiche, M., Hähnel, A., Erfurth, W., Motohashi, M., Tarun, A., Hayazawa, N., Kawata, S., Naumann, F., Pätzold, M., Holt, M. V., & Mäser, J. (2010). Strain Stability in Nanoscale Patterned Strained Silicon-on-Insulator. ECS Meeting Abstracts, MA2010-02(30), 1907 (1 page). Lien externe
Moutanabbir, O., Reiche, M., Hähnel, A., Erfurth, W., Naumann, F., Petzold, M., & Goesele, U. (2009). Probing the Strain States in Nanopatterned Strained SOI. ECS Transactions, 25(3), 187-194. Lien externe
Moutanabbir, O., Reiche, M., Zakharov, N. D., Hähnel, A., Erfurth, W., Naumann, F., Petzold, M., Holt, M. V., Mäser, J., & Goesele, U. (2009). Probing the Strain States in Nanopatterned Strained SOI. ECS Meeting Abstracts, MA2009-02(22), 1964-1964. Lien externe
Xiong, G., Moutanabbir, O., Reiche, M., Harder, R., & Robinson, I. (2018). Investigating strain in silicon-on-insulator nanostructures by coherent X-ray diffraction. Dans Fan, C., & Zhao, Z. (édit.), Synchrotron radiation in materials science (p. 239-274). Lien externe
Reiche, M., Moutanabbir, O., Hoentschel, J., Hähnel, A., Flachowsky, S., Gösele, U., & Horstmann, M. (2011). Strained Silicon Nanodevices. Dans Hanbücken, M., Müller, P., & Wehrspohn, R. B. (édit.), Mechanical Stress on the Nanoscale (p. 131-150). Lien externe
