Gang Xiong, Oussama Moutanabbir
, Manfred Reiche, Ross Harder, Ian Robinson
Chapitre de livre (2018)
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9783527697106
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Wiley
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oai:publications.polymtl.ca:40033
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Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:03
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:49
Citer en APA 7:
Xiong, G., Moutanabbir, O., Reiche, M., Harder, R., & Robinson, I. (2018). Investigating strain in silicon-on-insulator nanostructures by coherent X-ray diffraction. Dans Fan, C., & Zhao, Z. (édit.), Synchrotron radiation in materials science (p. 239-274). https://doi.org/10.1002/9783527697106.ch8
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