Angelika Hähnel, Manfred Reiche, Oussama Moutanabbir
, Horst Blumtritt, Holm Geisler, Jan Hontschel, Hans-Jurgen Engelmann
Article de revue (2012)
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Département:
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Titre de la revue
:
Microscopy and Microanalysis
(
vol.
18
,
no
1
)
Maison d'édition:
Cambridge University Press
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:39713
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:11
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:32
Citer en APA 7:
Hähnel, A., Reiche, M., Moutanabbir, O., Blumtritt, H., Geisler, H., Hontschel, J., & Engelmann, H.-J. (2012). Improving accuracy and precision of strain analysis by energy-filtered nanobeam electron diffraction. Microscopy and Microanalysis, 18(1), 229-40. https://doi.org/10.1017/s1431927611012657
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