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Nuage de motsUn nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
La Haye, M. L., Chapman, G. H., Jung, C., Cheung, D. Y. H., Djaja, S., & Audet, Y. (janvier 2023). Fault-tolerant photodiode and photogate active pixel sensors [Communication écrite]. Sensors and camera systems for scientific and industrial applications VI, San Jose, CA (12 pages). Lien externe
La Haye, M. L., Chapman, G. H., Jung, C., Cheung, D. Y., Djaja, S., & Audet, Y. (octobre 2004). Characteristics of fault-tolerant photodiode and photogate active pixel sensors (APS) [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2004), Cannes, France. Lien externe
Cheung, D. Y. H., Chapman, G. H., Djaja, S., Audet, Y., Wai, B., & Jung, C. (janvier 2004). Fault tolerant Active Pixel Sensors for large area digital imaging systems [Communication écrite]. Optoelectronic integrated circuits VI, San Jose CA. Lien externe
Chapman, G. H., Djaja, S., Cheung, D. Y. H., Audet, Y., Koren, I., & Koren, Z. (2004). A Self-Correcting Active Pixel Sensor Using Hardware and Software Correction. IEEE Design & Test of Computers, 21(6), 544-551. Lien externe
Djaja, S., Chapman, G. H., Cheung, D. Y. H., & Audet, Y. (novembre 2003). Implementation and testing of fault-tolerant photodiode-based active pixel sensor (APS) [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Boston, MA, United states. Lien externe
Audet, Y., & Chapman, G. H. (octobre 2001). Design of a self-correcting active pixel sensor [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, San Francisco, CA, USA. Lien externe
