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Réseau de collaborationCe graphique trace les liens entre tous les collaborateurs des publications de {} figurant sur cette page.
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Chun, J.-S., Carlsson, J. R. A., Desjardins, P., Bergstrom, D. B., Petrov, I., Greene, J. E., Lavoie, C., & Cabral, C. (2001). Synchrotron x-ray diffraction and transmission electon microscopy studies of interfacial reaction paths and kinetics annealing of fully-002-textured Al/TiN bilayers. Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 19(1), 182-191. Lien externe
Gurdal, O., Desjardins, P., Carlsson, J. R. A., Taylor, N., Radamson, H. H., Sundgren, J.-E., & Greene, J. E. (1998). Low-temperature growth and critical epitaxial thickness of fully-strained metastable Ge₁₋ₓSnₓ (x <0.26) alloys on Ge(001)2x1. Journal of Applied Physics, 83(1), 162-170. Lien externe
Rojas-López, M., Navarro-Contreras, H., Desjardins, P., Gurdal, O., Taylor, N., Carlsson, J. R. A., & Greene, J. E. (1998). Raman scattering from fully strained Ge1-xSnx (x<=0.22) alloys grown on Ge(001)2x1 by low-temperature molecular beam epitaxy. Journal of Applied Physics, 84(4), 2219-2223. Lien externe
