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Blaquiere, Y., Basile-Bellavance, Y., Berrima, S., & Savaria, Y. (juin 2014). Design and validation of a novel reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2014), Melbourne, VIC, Australia (4 pages). Lien externe
Norman, R., Valorge, O., Blaquière, Y., Lepercq, É., Basile-Bellavance, Y., El-Alaoui, Y., Prytula, R., & Savaria, Y. (juin 2008). An active reconfigurable circuit board [Communication écrite]. Joint IEEE North-East Workshop on Circuits and Systems and TAISA Conference (NEWCAS-TAISA 2008), Montréal, QC, Canada. Lien externe
Basile-Bellavance, Y. (2009). Conception d'un système de test et de configuration numérique tolérant aux pannes pour la technologie WAFERIC [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible
Blaquièere, Y., Savaria, Y., Basile-Bellavance, Y., Valorge, O., Lahkssassi, A., André, W., Laflamme Mayer, N., Bougataya, M., & Sawan, M. (2013). Methods, apparatus and system to support large-scale micro- systems including embedded and distributed power supply, thermal regulation, multi-distributedsensors and electrical signal propagation. (Demande de brevet no US20130285739). Lien externe
