Documents dont l'auteur est "Rayapati, Venkatapathi N."
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Un nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Article de revue
Rayapati, V. N., & Kamińska, B. (1996). Interconnect propagation delay modeling and validation for the 16-MB CMOS SRAM chip. IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology. Part B, Advanced Packaging, 19(3), 605-614. Lien externe
Rayapati, V. N., & Kamińska, B. (1994). A dynamic reconfiguration scheme for mega bit static random access memories. Microelectronics and reliability, 34(1), 107-114. Lien externe
Communication écrite
Rayapati, V. N., & Kamińska, B. (août 1994). Mega bit BiCMOS SRAM chip package modelling and performance analysis [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing, San Jose, CA, USA. Lien externe
Rayapati, V. N., & Kamińska, B. (août 1994). Mega bit CMOS SRAM chip failure analysis using external electrical testing and internal contactless laser beam testing [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing, San Jose, CA, USA. Lien externe
Rayapati, V. N., & Kamińska, B. (août 1993). Dynamic reconfiguration schemes for mega bit BiCMOS SRAMs [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Memory Testing (MT 1993), San Jose, CA, United states. Lien externe