Documents dont l'auteur est "Amassian, Aram"

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Article de revue

Martinu, L., Amassian, A., Lamarre, J.-M., Larouche, S., Masse, J.-P., & Vernhes, R. (2006). Plasma-Based Inhomogeneous Dielectric Film Systems for Optics and Photonics: Spectroscopic Ellipsometry Studies. ECS Meeting Abstracts, MA2005-01(8), 388 (1 page). Lien externe

Kaminska, K., Amassian, A., Martinu, L., & Robbie, K. (2005). Growth of vacuum evaporated ultraporous silicon studied with spectroscopic ellipsometry and scanning electron microscopy. Journal of Applied Physics, 97(1). Lien externe

Communication écrite

Vernhes, R., Amassian, A., Sapieha, J.-E., & Martinu, L. (juin 2004). Fabrication of Fabry-Perot filters using porous-dense silicon nitride stacks with optimized interfaces [Communication écrite]. Optical Interference Coatings, Tucson, Arizona, USA. Lien externe

Amassian, A., Larouche, S., Vernhes, R., Sapieha, J.-E., Desjardins, P., & Martinu, L. (mai 2002). Analysis and control of optical film growth by in situ real-time spectroscopic ellipsometry [Communication écrite]. SPIE Regional Meeting on Optoelectronics, Photonics, and Imaging (Opto Canada 2002), Ottawa, Ont., Can.. Lien externe

Thèse de doctorat

Amassian, A. (2005). Ion bombardment effects in low-pressure plasmas : in situ spectroscopic ellipsometry and Monte-Carlo simulation study [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. Disponible

Liste produite: Thu Oct 15 06:14:39 2026 EDT.