Louis-Pierre Lafrance, Yvon Savaria
Communication écrite (2006)
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Mots clés
Département:
Organismes subventionnaires:
Canada Research Chairs
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
49th International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS 2006)
Lieu de la conférence:
San Juan, PR, USA
Date(s) de la conférence:
2006-08-06 - 2006-08-09
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:75263
ORCID
Date du dépôt:
18 août 2026 15:20
Dernière modification:
08 oct. 2026 19:05
Citer en APA 7:
Lafrance, L.-P., & Savaria, Y. (août 2006). A Delay Characterization Method for Integrated Devices [Communication écrite]. 49th International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS 2006), San Juan, PR, USA. https://doi.org/10.1109/mwscas.2006.382118
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