A Delay Characterization Method for Integrated Devices

Louis-Pierre Lafrance et Yvon Savaria

Communication écrite (2006)

Un lien externe est disponible pour ce document

Département:	Département de génie électrique
Organismes subventionnaires:	Canada Research Chairs
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/75263/
Nom de la conférence:	49th International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS 2006)
Lieu de la conférence:	San Juan, PR, USA
Date(s) de la conférence:	2006-08-06 - 2006-08-09
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/mwscas.2006.382118
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/mwscas.2006.382118
Date du dépôt:	18 août 2026 15:20
Dernière modification:	18 août 2026 15:20

Citer en APA 7:	Lafrance, L.-P., & Savaria, Y. (août 2006). A Delay Characterization Method for Integrated Devices [Communication écrite]. 49th International Midwest Symposium on Circuits and Systems (MWSCAS 2006), San Juan, PR, USA. https://doi.org/10.1109/mwscas.2006.382118
APA 7 (HTML)ASCII CitationAtomBibTeXDOIsDublin CoreEndNote (.ENW)MARC (ISO 2709/UTF-8) (.MRC)MARC (UTF-8) (.MRK8)MARC XMLMPEG-21 DIDLMultiline CSVOAI-ORE Resource Map (Atom Format)OPENAIREOpenURL ContextObjectOpenURL ContextObject in SpanRDF+N-TriplesRDF+N3RDF+XMLReferReference Manager (.RIS)Simple Metadata

Statistiques

Actions réservées au personnel