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A calibration and measurement method of a tri-six-port network analyzer suitable for on-wafer characterization of three-port devices

Fadhel Ghannouchi

Article de revue (1993)

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Renseignements supplémentaires: Microwave Research Laboratory
Département: Département de génie électrique
Centre de recherche: Autre
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/75168/
Titre de la revue: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement (vol. 42, no 4)
Maison d'édition: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/19.234499
URL officielle: https://doi.org/10.1109/19.234499
Date du dépôt: 17 avr. 2026 14:00
Dernière modification: 17 avr. 2026 14:00
Citer en APA 7: Ghannouchi, F. (1993). A calibration and measurement method of a tri-six-port network analyzer suitable for on-wafer characterization of three-port devices. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 42(4), 864-866. https://doi.org/10.1109/19.234499

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