A calibration and measurement method of a tri-six-port network analyzer suitable for on-wafer characterization of three-port devices

Fadhel Ghannouchi

Article de revue (1993)

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Renseignements supplémentaires:
Microwave Research Laboratory
Unité de recherche:
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Titre de la revue :
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement ( vol. 42 , no 4 )
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:75168
ORCID
Date du dépôt:
17 avr. 2026 14:00
Dernière modification:
29 oct. 2026 19:53
Citer en APA 7:
Ghannouchi, F. (1993). A calibration and measurement method of a tri-six-port network analyzer suitable for on-wafer characterization of three-port devices. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 42(4), 864-866. https://doi.org/10.1109/19.234499

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