Oussama Moutanabbir
, Manfred Reiche, Angelika Hähnel, Wilfred Erfurth, Masashi Motohashi, Alvarado Tarun, Norihiko Hayazawa, Satoshi Kawata, Falk Naumann, M. Pätzold, Martin V. Holt, J. Mäser
Article de revue (2010)
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Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
ECS Meeting Abstracts
(
vol.
MA2010-02
,
no
30
)
Maison d'édition:
Institute of Physics
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:74559
ORCID
Date du dépôt:
30 juil. 2026 15:16
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:36
Citer en APA 7:
Moutanabbir, O., Reiche, M., Hähnel, A., Erfurth, W., Motohashi, M., Tarun, A., Hayazawa, N., Kawata, S., Naumann, F., Pätzold, M., Holt, M. V., & Mäser, J. (2010). Strain Stability in Nanoscale Patterned Strained Silicon-on-Insulator. ECS Meeting Abstracts, MA2010-02(30), 1907 (1 page). https://doi.org/10.1149/ma2010-02/30/1907
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