Oussama Moutanabbir, Manfred Reiche, N. D. Zakharov, Angelika Hähnel, W. Erfurth, Falk Naumann, Matthias Petzold, Martin V. Holt, J. Mäser et Ulrich Goesele
Article de revue (2009)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
Un lien externe est disponible pour ce document| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/74555/ |
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| Titre de la revue: | ECS Meeting Abstracts (vol. MA2009-02, no 22) |
| Maison d'édition: | Institute of Physics |
| DOI: | 10.1149/ma2009-02/22/1964 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1149/ma2009-02/22/1964 |
| Date du dépôt: | 30 juil. 2026 14:56 |
| Dernière modification: | 30 juil. 2026 14:56 |
| Citer en APA 7: | Moutanabbir, O., Reiche, M., Zakharov, N. D., Hähnel, A., Erfurth, W., Naumann, F., Petzold, M., Holt, M. V., Mäser, J., & Goesele, U. (2009). Probing the Strain States in Nanopatterned Strained SOI. ECS Meeting Abstracts, MA2009-02(22), 1964-1964. https://doi.org/10.1149/ma2009-02/22/1964 |
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