Oussama Moutanabbir
, Manfred Reiche, Angelika Hähnel, W. Erfurth, Alvarado Tarun, Norihiko Hayazawa, Satoshi Kawata, Falk Naumann, Matthias Petzold
Article de revue (2010)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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Mots clés
Organismes subventionnaires:
Bundesministerium für Bildung und Forschung
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
ECS Transactions
(
vol.
33
,
no
6
)
Maison d'édition:
Institute of Physics
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:74552
ORCID
Date du dépôt:
30 juil. 2026 15:00
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:36
Citer en APA 7:
Moutanabbir, O., Reiche, M., Hähnel, A., Erfurth, W., Tarun, A., Hayazawa, N., Kawata, S., Naumann, F., & Petzold, M. (2010). Strain Stability in Nanoscale Patterned Strained Silicon-On-Insulator. ECS Transactions, 33(6), 511-522. https://doi.org/10.1149/1.3487581
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