Oussama Moutanabbir, Manfred Reiche, Angelika Hähnel, Wilfred Erfurth, Falk Naumann, Matthias Petzold et Ulrich Goesele
Article de revue (2009)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
Un lien externe est disponible pour ce document| Organismes subventionnaires: | Bundesministerium für Bildung und Forschung |
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/74547/ |
| Titre de la revue: | ECS Transactions (vol. 25, no 3) |
| Maison d'édition: | Institute of Physics |
| DOI: | 10.1149/1.3204406 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1149/1.3204406 |
| Date du dépôt: | 30 juil. 2026 15:02 |
| Dernière modification: | 30 juil. 2026 15:02 |
| Citer en APA 7: | Moutanabbir, O., Reiche, M., Hähnel, A., Erfurth, W., Naumann, F., Petzold, M., & Goesele, U. (2009). Probing the Strain States in Nanopatterned Strained SOI. ECS Transactions, 25(3), 187-194. https://doi.org/10.1149/1.3204406 |
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