Soft-error filtering: A solution to the reliability problem of future VLSI digital circuits

Yvon Savaria, Nicholas Rumin, Jeremiah F. Hayes et Vinod K. Agarwal

Article de revue (1986)

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Département:	Département de génie électrique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/74143/
Titre de la revue:	Proceedings of the IEEE (vol. 74, no 5)
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/proc.1986.13530
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/proc.1986.13530
Date du dépôt:	07 avr. 2026 14:11
Dernière modification:	07 avr. 2026 14:11

Citer en APA 7:	Savaria, Y., Rumin, N., Hayes, J. F., & Agarwal, V. K. (1986). Soft-error filtering: A solution to the reliability problem of future VLSI digital circuits. Proceedings of the IEEE, 74(5), 669-683. https://doi.org/10.1109/proc.1986.13530
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