Soft-error filtering: A solution to the reliability problem of future VLSI digital circuits

Yvon Savaria, Nicholas Rumin, Jeremiah F. Hayes, Vinod K. Agarwal

Article de revue (1986)

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Mots clés

Département:
Département de génie électrique
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/74143/
Titre de la revue :
Proceedings of the IEEE ( vol. 74 , no 5 )
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/proc.1986.13530
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/proc.1986.13530
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:74143
ORCID
Date du dépôt:
07 avr. 2026 14:11
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:35
Citer en APA 7:
Savaria, Y., Rumin, N., Hayes, J. F., & Agarwal, V. K. (1986). Soft-error filtering: A solution to the reliability problem of future VLSI digital circuits. Proceedings of the IEEE, 74(5), 669-683. https://doi.org/10.1109/proc.1986.13530

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