A Theory for the Design of Soft-Error-Tolerant VLSI Circuits

Yvon Savaria, Jeremiah F. Hayes, Nicholas Rumin et Vinod K. Agarwal

Article de revue (1986)

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Département:	Département de génie électrique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/74139/
Titre de la revue:	IEEE Journal on Selected Areas in Communications (vol. 4, no 1)
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/jsac.1986.1146297
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/jsac.1986.1146297
Date du dépôt:	07 avr. 2026 14:14
Dernière modification:	07 avr. 2026 14:14

Citer en APA 7:	Savaria, Y., Hayes, J. F., Rumin, N., & Agarwal, V. K. (1986). A Theory for the Design of Soft-Error-Tolerant VLSI Circuits. IEEE Journal on Selected Areas in Communications, 4(1), 15-23. https://doi.org/10.1109/jsac.1986.1146297
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