A Theory for the Design of Soft-Error-Tolerant VLSI Circuits

Yvon Savaria, Jeremiah F. Hayes, Nicholas Rumin, Vinod K. Agarwal

Article de revue (1986)

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Mots clés

Département:
Département de génie électrique
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/74139/
Titre de la revue :
IEEE Journal on Selected Areas in Communications ( vol. 4 , no 1 )
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/jsac.1986.1146297
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/jsac.1986.1146297
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:74139
ORCID
Date du dépôt:
07 avr. 2026 14:14
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:35
Citer en APA 7:
Savaria, Y., Hayes, J. F., Rumin, N., & Agarwal, V. K. (1986). A Theory for the Design of Soft-Error-Tolerant VLSI Circuits. IEEE Journal on Selected Areas in Communications, 4(1), 15-23. https://doi.org/10.1109/jsac.1986.1146297

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