Naim Ben Hamida et Bożena Kamińska
Communication écrite (1991)
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
|---|---|
| ISBN: | 0780300505 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/72154/ |
| Nom de la conférence: | International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991) |
| Lieu de la conférence: | Singapore |
| Date(s) de la conférence: | 1991-06-11 - 1991-06-14 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/iscas.1991.176799 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iscas.1991.176799 |
| Date du dépôt: | 05 févr. 2026 15:56 |
| Dernière modification: | 05 févr. 2026 15:56 |
| Citer en APA 7: | Hamida, N. B., & Kamińska, B. (juin 1991). A uniform testability measures representation for sequential and combinational circuits [Communication écrite]. International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991), Singapore. https://doi.org/10.1109/iscas.1991.176799 |
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