Precise Calculations and Measurements on the Complex Dielectric Constant of Lossy Materials Using TM₀₁₀ Cavity Perturbation Techniques

Shihe Li, Cevdet Akyel, Rénato Bosisio

Article de revue (1981)

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Mots clés

Département:
Département de génie électrique
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/69792/
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques ( vol. 29 , no 10 )
Maison d'édition:
IEEE Microwave Theory and Techniques Society
DOI:
10.1109/tmtt.1981.1130496
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/tmtt.1981.1130496
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:69792
ORCID
Date du dépôt:
24 nov. 2025 10:59
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:30
Citer en APA 7:
Li, S., Akyel, C., & Bosisio, R. (1981). Precise Calculations and Measurements on the Complex Dielectric Constant of Lossy Materials Using TM₀₁₀ Cavity Perturbation Techniques. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 29(10), 1041-1048. https://doi.org/10.1109/tmtt.1981.1130496

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