Shihe Li, Cevdet Akyel et Rénato Bosisio
Article de revue (1981)
Un lien externe est disponible pour ce document| Département: | Département de génie électrique |
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/69792/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques (vol. 29, no 10) |
| Maison d'édition: | IEEE Microwave Theory and Techniques Society |
| DOI: | 10.1109/tmtt.1981.1130496 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tmtt.1981.1130496 |
| Date du dépôt: | 24 nov. 2025 10:59 |
| Dernière modification: | 24 nov. 2025 10:59 |
| Citer en APA 7: | Li, S., Akyel, C., & Bosisio, R. (1981). Precise Calculations and Measurements on the Complex Dielectric Constant of Lossy Materials Using TM₀₁₀ Cavity Perturbation Techniques. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 29(10), 1041-1048. https://doi.org/10.1109/tmtt.1981.1130496 |
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