Multiple fault analog circuit testing by sensitivity analysis

Naim Ben Hamida et Bożena Kamińska

Article de revue (1993)

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Département:	Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/69482/
Titre de la revue:	Analog Integrated Circuits and Signal Processing (vol. 4, no 3)
Maison d'édition:	Springer Science+Business Media
DOI:	10.1007/bf01239076
URL officielle:	https://doi.org/10.1007/bf01239076
Date du dépôt:	26 nov. 2025 16:15
Dernière modification:	26 nov. 2025 16:15

Citer en APA 7:	Ben Hamida, N., & Kamińska, B. (1993). Multiple fault analog circuit testing by sensitivity analysis. Analog Integrated Circuits and Signal Processing, 4(3), 231-243. https://doi.org/10.1007/bf01239076
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