Mid-infrared Imaging Using Strain-Relaxed Ge1–xSnx Alloys Grown on 20 nm Ge Nanowires

Lu Luo, Mahmoud R. M. Atalla, Simone Assali, Sebastian Koelling, Gérard Tanguy Eric Gnato Daligou, Oussama Moutanabbir

Article de revue (2024)

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Titre de la revue :
Nano Letters ( vol. 24 , no 16 )
Maison d'édition:
ACS Publications
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:58102
ORCID
Date du dépôt:
30 avr. 2024 12:41
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:18
Citer en APA 7:
Luo, L., Atalla, M. R. M., Assali, S., Koelling, S., Daligou, G. T. E. G., & Moutanabbir, O. (2024). Mid-infrared Imaging Using Strain-Relaxed Ge1–xSnx Alloys Grown on 20 nm Ge Nanowires. Nano Letters, 24(16), 4979-4986. https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.4c00759

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