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Mid-infrared Imaging Using Strain-Relaxed Ge1–xSnx Alloys Grown on 20 nm Ge Nanowires

Lu Luo, Mahmoud R. M. Atalla, Simone Assali, Sebastian Koelling, Gérard Tanguy Eric Gnato Daligou et Oussama Moutanabbir

Article de revue (2024)

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Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/58102/
Titre de la revue: Nano Letters (vol. 24, no 16)
Maison d'édition: ACS Publications
DOI: 10.1021/acs.nanolett.4c00759
URL officielle: https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.4c00759
Date du dépôt: 30 avr. 2024 12:41
Dernière modification: 21 mars 2025 15:20
Citer en APA 7: Luo, L., Atalla, M. R. M., Assali, S., Koelling, S., Daligou, G. T. E. G., & Moutanabbir, O. (2024). Mid-infrared Imaging Using Strain-Relaxed Ge1–xSnx Alloys Grown on 20 nm Ge Nanowires. Nano Letters, 24(16), 4979-4986. https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.4c00759

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