Lu Luo, Mahmoud R. M. Atalla, Simone Assali, Sebastian Koelling, Gérard Daligou et Oussama Moutanabbir
Article de revue (2024)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/58102/ |
Titre de la revue: | Nano Letters |
Maison d'édition: | American Chemical Society |
DOI: | 10.1021/acs.nanolett.4c00759 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.4c00759 |
Date du dépôt: | 30 avr. 2024 12:41 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:50 |
Citer en APA 7: | Luo, L., Atalla, M. R. M., Assali, S., Koelling, S., Daligou, G., & Moutanabbir, O. (2024). Mid-infrared Imaging Using Strain-Relaxed Ge1–xSnx Alloys Grown on 20 nm Ge Nanowires. Nano Letters, 8-8. https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.4c00759 |
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