Article de revue (1979)
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Département:
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Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
(
vol.
28
,
no
4
)
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:55520
ORCID
Date du dépôt:
20 sept. 2023 13:22
Dernière modification:
08 oct. 2026 18:34
Citer en APA 7:
Akyel, C., & Bosisio, R. (1979). Wide-Range Dynamic Complex Dielectric Constant Measurements Using Microprocessor Control Techniques. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 28(4), 272-278. https://doi.org/10.1109/tim.1979.4314831
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