Cevdet Akyel et Rénato Bosisio
Article de revue (1979)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/55520/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement (vol. 28, no 4) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/tim.1979.4314831 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tim.1979.4314831 |
| Date du dépôt: | 20 sept. 2023 13:22 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:47 |
| Citer en APA 7: | Akyel, C., & Bosisio, R. (1979). Wide-Range Dynamic Complex Dielectric Constant Measurements Using Microprocessor Control Techniques. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 28(4), 272-278. https://doi.org/10.1109/tim.1979.4314831 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
