Sebastian Koelling, Lucas E. A. Stehouwer, Brian Paquelet Wuetz, Giordano Scappucci, Oussama Moutanabbir
Article de revue (2023)
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Titre de la revue
:
Advanced Materials: Interfaces
(
vol.
10
,
no
3
)
Maison d'édition:
Wiley
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:54093
ORCID
Date du dépôt:
10 juil. 2023 16:30
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:12
Citer en APA 7:
Koelling, S., Stehouwer, L. E. A., Paquelet Wuetz, B., Scappucci, G., & Moutanabbir, O. (2023). Three-dimensional atomic-scale tomography of buried semiconductor heterointerfaces. Advanced Materials: Interfaces, 10(3), 2201189. https://doi.org/10.1002/admi.202201189
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