Sebastian Koelling, Lucas E. A. Stehouwer, Brian Paquelet Wuetz, Giordano Scappucci et Oussama Moutanabbir
Article de revue (2023)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/54093/ |
| Titre de la revue: | Advanced Materials: Interfaces (vol. 10, no 3) |
| Maison d'édition: | Wiley |
| DOI: | 10.1002/admi.202201189 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1002/admi.202201189 |
| Date du dépôt: | 10 juil. 2023 16:30 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 12:00 |
| Citer en APA 7: | Koelling, S., Stehouwer, L. E. A., Paquelet Wuetz, B., Scappucci, G., & Moutanabbir, O. (2023). Three-dimensional atomic-scale tomography of buried semiconductor heterointerfaces. Advanced Materials: Interfaces, 10(3), 2201189. https://doi.org/10.1002/admi.202201189 |
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