Electronic and Optical Properties of Short-Period Si/Sige Superlattices: Effects of Interfacial Atomic-Scale Roughness

Gabriel Fettu, Anis Attiaoui, Mukherjee Samik, Matthias Bauer et Oussama Moutanabbir

Article de revue (2020)

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Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/51884/
Titre de la revue:	ECS Meeting Abstracts (vol. MA2020-01, no G01 : Sili)
DOI:	10.1149/ma2020-01221305mtgabs
URL officielle:	https://doi.org/10.1149/ma2020-01221305mtgabs
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:00
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:56

Citer en APA 7:	Fettu, G., Attiaoui, A., Samik, M., Bauer, M., & Moutanabbir, O. (2020). Electronic and Optical Properties of Short-Period Si/Sige Superlattices: Effects of Interfacial Atomic-Scale Roughness. ECS Meeting Abstracts, MA2020-01(G01 : Sili), 1305-1305. https://doi.org/10.1149/ma2020-01221305mtgabs
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